半導體產品壽命預估

‧溫度加速因子TEMP A.F = e. 2.轉速超出規格30% (Speed Over 30 ... 3.電流超出規格30% (Current Over 30% Origin). Description：. ‧查表得(MTTF By GEM Table) MTTF =.

T=Tr*MTTF/(n*AF)(此MTTF是评估试验阶段后评估得出的产品失效前平均时间）. 6 .加速因数. 根据T1、T2得出，用AF表示：AF=2(T1-T2)/10。其中10为加速 ...

MTTF和L10之計算方法： 1. 依據風扇SPEC承認書，找到相對應的期望壽命標準。 如：SPEC： 5-1-13 Life Expectancy(L10) 75,000 Hours At40℃(Bearing)

根據公式AF=2(T1-T2)/10得出該驗証試驗中的加速因數AF. 其中﹐公式中10為加速因子常數. 根據公式T= Tr*MTTF/(n*AF)得出該驗証試驗中實際需驗証時間T.其中﹐Tr為驗証時間比 ...

MTTF則稱為平均失效時間,與MTBF. 的差異在於,常用於在不可維修的產. 品,像是IC此類的單體元件。此類元件. 因產品失效後,並無法透過維修,將元. 件本體的 ...

MTTF和MTBF都是可靠度壽命預估的一種標準，差別在於MTBF運用於可維修或單體成本昂貴的產品(如電腦、飛機、汽車)，MTTF運用於不可維修或單體成本較便宜的產品 ...

其平均失效前时间(MTTF)为：MTTF = (T1+T2+…Tn)/N0. 由于对不可修复的产品，失效时间即是产品的寿命，故MTTF也即为平均寿命。 当产品的寿命服从指数分布时，MTTF=1/λ.

以溫度為主要加速因子（Accelerated Factor，AF）之可靠度試驗，多以阿瑞尼亞 ... 半導體元件多以FIT (Failure In Time) 與MTTF （Mean Time To Failure）兩者計算之。

The AF allows extrapolation of failure rates from accel- erated test ... Table 3 below gives the FIT rate and MTTF for several Intersil processes.

加速因子(AF)，透過適當的加嚴實驗條件，以縮短測試時間並得到等同或相近的 ... 與FIT相關的MTTF，平均失效壽命，是FIT的倒數關係，可用來預估出貨後特定區間中的 ...